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3. Optence Messtechnik Symposium- Berührungslose Schichtdickenmessung in der Qualitätskontrolle


In der heutigen Produktion haben die meisten gefertigten Teile eine oder mehrere Beschichtungen, die den Teilen entweder einen Schutz bieten sollen oder sogar über die Funktion des Bauteils entscheiden. Die Prüfung der Dicken aufgebrachter Schichten ist daher ein wichtiger Bestandteil in der Qualitätskontrolle. Um die Produktion nicht durch den Messprozess zu beeinträchtigen, sind berührungslose Messtechniken von großer Bedeutung.
Im Symposium werden unterschiedliche Methoden der berührungslosen Schichtdickenbestimmung und ihre Einsatzmöglichkeiten vorgestellt.

Zielgruppe des Symposiums sind vorwiegend Firmen und Institute, welche sich mit dem Aufbringen und Charakterisieren von Schichten unterschiedlichster Materialien und Funktion beschäftigen.

Kooperationspartner der Veranstaltung sind das Fraunhofer ITWM und die DGaO.







Anbieter:


Optence e.V.
Ober-Saulheimer-Str. 6
55286 Wörrstadt
Tel.: +49 (0)6732–935-122
Fax: +49 (0)6732–935-123
reuter(at)optence(dot)de
http://www.optence.de
Ansprechpartner:

Referenten:
Nicolai Brill, MABRI.VISION GmbH
Dr.-Ing. Udo Riss, DRE-Dr. Riss Ellipsometerbau GmbH
Prof. Dr. Henning Fouckhardt, Technische Universität
Kaiserslautern
Dr. Daniel Schröder, Precitec Optronik GmbH
Dr. Mike Hettich, Universität Konstanz
Dr. Frank Ellrich, Fraunhofer ITWM
Dr. Fabian Friederich, Fraunhofer ITWM
Dr. Stefan Böttger, Phototherm Dr. Petry GmbH
Dr. Simone Dill, HELMUT FISCHER GmbH


Termin:
30.05.2017 10:00 Uhr
1 Tag

Teilnehmergebühren:
180,00 EUR zzgl. MwSt.
Mitglieder Kompetenznetze Optische Technologien / DGaO (140,00 EUR)

Teilnehmerplätze:

Veranstaltungsort:
Zentrum für Materialcharakterisierung und -prüfung des Fraunhofer-Instituts für Techno- und Wirtschaftsmathematik
67663 Kaiserslautern
Fraunhofer-Platz 1

Link zur Veranstaltung

Anmeldung

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